Scanning electron microscope (SEM)

Scanning electron microscope (SEM) images were obtained by using a FEI XL30 ESEM. Silver
nanoparticle distribution on the surface and crosssection of Ag/PLA fibers was investigated by an energy-dispersive spectroscopy (EDS) after gold coating. The morphologies of the Ag/PLA fibers collected and reduced on carbon-coated copper grids were observed on a transmission electron microscopy (TEM, JEM-2010 from JEOL, Japan). X-ray diffraction (XRD D/max 2500 V PC from
Rigaku, Japan) measurements were performed in a 2-theta scan configuration in the range of 10–80 

Результаты (русский) 2:

Сканирующей электронной микроскопии (SEM) изображения были получены с помощью FEI XL30 ESEM. Серебро
распределение наночастиц на поверхности и поперечного сечения из Ag / НОАК волокна была исследована с помощью энергии-дисперсионные спектроскопии (EDS) после золотого покрытия. Морфология волокон Ag / НОАК, собранных и восстановленных на углеродных покрытием медных сетей наблюдались на просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ, JEM-2010 из JEOL, Япония). Рентгеновский дифракционный (XRD D / макс 2500 В ПК от
Rigaku, Япония) Измерения проводились в 2-тета конфигурации сканирования в диапазоне 10-80?

Результаты (русский) 3:

сканирующий электронный микроскоп (SEM) изображения были получены с помощью феи xl30 esem.на поверхности наночастиц серебра ", распределение и crosssection Ag / ноа волокна была расследована энергодисперсионная спектроскопия (eds) после золотого покрытия.в morphologies из AG / ноа волокна, собранные и сокращение на выбросы из медных сетей были замечены на просвечивающий электронный микроскоп (теа,jem-2010 из jeol, япония).рентгеновская дифракция (xrd D / макс 2500 V компьютер
rigaku, япония) были произведены замеры в 2-theta параметров сканирования в диапазоне 10 - 80