Dear ChenPlease refer to disposal w

Dear Chen
Please refer to disposal way of low yield lots as below on the basis of an engineer’s opinion
PTU13005G
Mode : hFE low with 5~6 (SPEC : hFE(100uA) min7.0 )
Cause : Some of the wafer can’t meet hFE specification
Disposal of Products : Ship Good products and Scrap fail products

PFU3N90
Mode : CURVE ( IDSS leakage high) /Distribution of IDSS 200~970nA
Cause : Not clear / Need to investigate cause of low yield
=>. PDK engineer suggests that the Test equipment is needed to verify if there is any problem and/ or any difference among test machines
=>. Please perform retest for failure units by using another test equipment which was not used before
=>. please submit electrical retest result with another test equipment and the photos of the BVdss Curve Tracer for good and fail respectively

Thanks and best regards
Tom Choi.

Результаты (русский) 1:

Уважаемые ЧэньОбратитесь к утилизации способ низкой доходности много как ниже на основе мнения инженера PTU13005GРежим: hFE низкий с 5 ~ 6 (SPEC: hFE(100uA) min7.0)Причина: Некоторые из пластины не соответствуют спецификации hFE Утилизация продуктов: хорошие продукты корабль и лом не продукты PFU3N90 Режим: Кривой (Иоси утечки высокий) /Distribution от Иоси 200 ~ 970nAПричина: Не ясно / должны расследовать причины низкой урожайности = >. PDK инженер свидетельствует о том, что для проверки, если есть какие-либо проблемы и / или каких-либо различий среди тестовых машин требуется испытательное оборудование = >. Выполните повторное тестирование для отказа единиц с помощью другого испытательного оборудования, который не использовался до= >. Просьба представить результат электрическое тестирование с другой испытательного оборудования и фотографий трассировочные кривой BVdss для хорошего и соответственно не Спасибо и наилучшими пожеланиямиТом Чой.

Результаты (русский) 2:

Уважаемый Чен
Пожалуйста, обратитесь к утилизации образом низких участков урожая, как показано ниже на основе мнения инженера
PTU13005G
режиме: HFE низкой с 5 ~ 6 (SPEC: HFE (100uA) min7.0)
Причина: Некоторые пластины не могут удовлетворить HFE спецификация
Утилизация Товаров: Судовые Хорошие продукты и лома неудачу продукты PFU3N90 режим: кривая (ИОСИ утечки высокий) / Распределение ИОСИ 200 ~ 970nA Причина: Не ясно, / Вам нужно исследовать причину низкой доходности =>. Инженер ДПК предполагает, что Испытательное оборудование необходимо проверить, если есть какие-либо проблемы, и / или какое-либо различие между тестовых машинах =>. Пожалуйста, выполните повторное тестирование для единиц отказа с помощью другого испытательного оборудования, который не был использован перед =>. введите результат повторного тестирования электрической другим испытательным оборудованием и фотографий BVdss Curve Tracer для хорошего и не соответственно благодарность и наилучшие пожелания Том Чой.

Результаты (русский) 3:

Дорогая, чэнь
см. низкая урожайность многих метод обработки в инженер следующие мнения ptu13005g

режим: 5 - 6 на основе этих низкой (спецификации: этих (100uA): некоторые причины min7.0)

этих пластин не удовлетворяют спецификации продуктов утилизации лома судов: хороший продукт, продукт не pfu3n90


режим: кривая (ИОСИ высокой утечки) / ИОСИ 200 ~ 970na
причин распределения:не ясно, / нужно расследование привело к низкой доходности
= >.ДПК инженер считает, что испытания оборудования требует подтверждения, если есть какие - либо вопросы и / или любые различия испытаний машина
= >.Пожалуйста, не для переаттестации подразделений использовать другой испытания оборудования, не использовать до
= >.Пожалуйста, электрический переаттестации результаты и другой испытания оборудования и хорошие BVDSS индикаторный кривой, соответственно, фотографии и неудачи


Тома признательность и искренние приветствия цвет.